對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

牛津熒光鍍層膜厚儀的應用領域：

    PCB、FPC、LED支架和封裝、連接器、端子、電子元件、五金產(chǎn)品、衛(wèi)浴潔具、汽車零部件、裝飾件、首飾飾品等多個行業(yè)、檢測機構和科研院校。

    該設備的測量結果報告中可包含：數(shù)據(jù)、被測樣品點圖片、各種統(tǒng)計報表；可使用系統(tǒng)預置的報告模板和客戶自定義的報告模板。測量時間約10秒，快速無損得出測量結果，進行非破壞的能量色散X射線熒光（EDXRF）分析。系統(tǒng)安全設置級別，配置有X射線警示燈、X射線鎖、紅色急停開關、樣品室開閉門傳感器、光閘傳感器、使用者和管理員分級密碼管理等。